Ingrese una posición arancelaria o parte de una descripción
| POSICION | DESCRIPCION | |
|---|---|---|
| 9030.82 | - - Para medida o control de obleas («wafers») o dispositivos semiconductores (incluidos los circuitos integrados) | |
| 9030.82.10 | Para prueba de circuitos integrados | |
| 9030.82.10.000M | Para prueba de circuitos integrados | |
| 9030.82.90 | Los demás | |
| 9030.82.90.000Q | Los demás |